[发明专利]一种用于气液两相流状态的介质绝缘性能测量装置有效
| 申请号： | 200810115465.6 | 申请日： | 2008-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN101308189A | 公开（公告）日： | 2008-11-19 |
| 发明（设计）人： | 牛文豪;张国强;王新 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电工研究所 |
| 主分类号： | G01R31/12 | 分类号： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 | 代理人： | 关玲;成金玉 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于气液两相流状态下的介质绝缘性能测量的装置，加热装置(20)位于密封容器(10)的底部，冷凝装置(90)处于密封容器(10)的上部。冷凝装置(90)开有穿出密封容器(10)顶板的进水口(100)和出水口(110)。高压电极(50)和低压电极(60)处于密封容器(10)的中部，从相对的两个方向穿入密封容器(10)内；密封容器(10)中加入待测液体介质(40)，加热装置(20)对液体介质(40)加热至沸腾两相流状态，液体介质(40)沸腾蒸发后产生的蒸汽由冷凝装置(90)冷凝，变成液体，流回密封容器(10)底部。本发明可用于各种液体介质在气液两相流状态下绝缘性能的测量，以及处于两相流状态下液体介质环境中的固体绝缘材料的绝缘性能的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 两相 状态 介质 绝缘 性能 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于气液两相流状态下介质绝缘性能测量的装置，包括密封容器(10)，其特征是该装置还包括加热装置(20)、冷凝装置(90)、高压电极(50)、低压电极(60)、高压电极密封装置(70)和低压电极密封装置(80)；加热装置(20)位于密封容器(10)的底部，冷凝装置(90)处于密封容器(10)的上部；冷凝装置(90)为内部空心的金属管道或空心容器，开有进水口(100)和出水口(110)；冷凝装置(90)的进水口(100)和出水口(110)穿过密封容器(10)顶板，通向密封容器(10)外；高压电极(50)和低压电极(60)处于密封容器的中部，分别通过高压电极密封装置(70)和低压电极密封装置(80)，从相对的两个方向穿入密封容器(10)内；密封容器(10)中加入待测液体介质(40)，加热装置(20)对待测液体介质(40)加热至沸腾两相流状态，待测液体介质(40)沸腾蒸发后产生的蒸汽由冷凝装置(90)冷凝，变成液体，流回密封容器(10)底部。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所，未经中国科学院电工研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200810115465.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
