[发明专利]半导体生产中掺杂剂的称量系统无效

专利信息
申请号: 200810116568.4 申请日: 2008-07-11
公开(公告)号: CN101625253A 公开(公告)日: 2010-01-13
发明(设计)人: 方峰;高恺;邓德辉;郑沉;张楠 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院;有研半导体材料股份有限公司;国泰半导体材料有限公司
主分类号: G01G17/00 分类号: G01G17/00
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 代理人: 郭佩兰
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种半导体生产中掺杂剂的称量系统,它包括:多台电子秤,计算机,打印机,所述的电子秤与计算机之间接串口扩张卡,卡的一端为接口,该接口接电子秤数据传输线,另一端为输出端,该输出端接电脑主机,电子秤与电脑的数据传输采用标准的TCP/IP协议,计算机接带不干胶带的打印机。本系统的优点是:称量准确、快速,可避免不同掺杂剂在称量时产生的交叉污染。
搜索关键词: 半导体 生产 掺杂 称量 系统
【主权项】:
1、一种半导体生产中掺杂剂的称量系统,其特征在于:它包括:多台电子秤,计算机,打印机,所述的电子秤与计算机之间接串口扩张卡,卡的一端为接口,该接口接电子秤数据传输线,另一端为输出端,该输出端接电脑主机,电子秤与电脑的数据传输采用标准的TCP/IP协议,计算机接带不干胶带的打印机。
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