[发明专利]一种阴影检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 200810116871.4 申请日: 2008-07-18
公开(公告)号: CN101324927A 公开(公告)日: 2008-12-17
发明(设计)人: 谌安军 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06T7/20
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 王琦;王诚华
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阴影检测方法及装置,本发明方案综合考虑了阴影的纹理特性和颜色特性,并利用他们的联合概率分布来对阴影进行检测,减少了噪声以及其他因素对阴影检测的干扰,从而提高了阴影检测的正确性,保证阴影检测的稳定性。
搜索关键词: 一种 阴影 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种阴影检测方法,其特征在于,该方法包括:A.对图像进行目标检测获得背景点和前景点,并利用检测出的背景点对已建立的背景模型进行更新;B.计算背景点与前景点的颜色概率分布,以及图像中目标像素点的纹理概率分布的联合概率密度;在得到的联合概率密度小于预设阈值时,判定目标像素点为阴影点。
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