[发明专利]存储器内建自修复系统及自修复方法无效
| 申请号： | 200810117443.3 | 申请日： | 2008-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN101329918A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 谢远江;王达;胡瑜;李晓维 | 申请（专利权）人： | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 100190北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器内建自修复系统，包括内建自测试电路、内建自诊断电路、内建自修复电路和冗余行/列；其特征在于，所述内建自修复电路包括字修复电路，所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器，所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障；所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。本发明还提供了相应的内建自修复方法。本发明的优势包括：细化了冗余资源的粒度，提高了存储器冗余资源的利用率；通过避免访问存在缺陷的故障单元，提高存储器修复后的可靠性；并且故障诊断和冗余分配算法简单易实现；充分利用冗余资源，具有更好的修复效果。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 修复 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器内建自修复系统，包括内建自修复电路和冗余行/列；所述内建自修复电路包括字修复电路，所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器，所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障；所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。
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