[发明专利]一种苜蓿种子加速老化测定方法无效
申请号: | 200810117971.9 | 申请日: | 2008-08-18 |
公开(公告)号: | CN101341816A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
发明(设计)人: | 毛培胜;李寅菲;孙彦;王显国 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | A01C1/02 | 分类号: | A01C1/02 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王朋飞 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种苜蓿种子加速老化测定的方法,包括以下步骤:调整种子含水量;将种子置于45℃,湿度为100%的环境中进行人工加速老化处理,老化时间为84h;测定老化后种子的发芽率。利用本发明提供的测定方法,不仅避免了常规种子发芽率测定的局限性,能够更好反映种子在田间的表现和贮藏性能,而且缩短了测定周期,操作简单,无需复杂设备,可以预测种子在田间的实际出苗情况和种子的耐藏性,反映种子活力水平的高低,适合将不同质量水平的苜蓿种子分开。 | ||
搜索关键词: | 一种 苜蓿 种子 加速 老化 测定 方法 | ||
【主权项】:
1、一种苜蓿种子加速老化的测定方法,其特征在于,包括步骤:1)调整种子含水量;2)将种子置于39~45℃,湿度为100%的环境中进行人工加速老化处理,老化时间为24~96h;3)测定老化后种子的发芽率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国农业大学,未经中国农业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810117971.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:芯片卡和生产芯片卡的方法
- 下一篇:使用自适应天线的通信越区切换