[发明专利]一种高精度测角方法有效
申请号: | 200810118038.3 | 申请日: | 2008-08-07 |
公开(公告)号: | CN101339011A | 公开(公告)日: | 2009-01-07 |
发明(设计)人: | 张继友;伏瑞敏;何品将;党一涵 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 1000*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种高精度测角方法,首先将待测物体置于旋转平台上,然后将720齿分度台和391齿分度台组合置于旋转平台之上,并在720齿分度台和391齿分度台组合上放置平面反射镜;随后调整光电自准直仪,使其发出的测量光线瞄准平面反射镜;转动720齿分度台和391齿分度台组合,使其旋转一个角度,并记录此时的旋转角度值,随后反向转动旋转平台,使得光电自准直仪发出的测量光线重新瞄准平面反射镜上的同一瞄准位置,此时720齿分度台和391齿分度台组合的旋转角度值即为待测敏感器件转动过的角度值。本发明方法操作步骤简单,可实现整周角度的高精度测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 方法 | ||
【主权项】:
1、一种高精度测角方法,其特征在于步骤如下:(1)将待测物体置于旋转平台上;(2)将720齿分度台和391齿分度台组合置于旋转平台上,并在720齿分度台和391齿分度台组合上放置平面反射镜;(3)调整光电自准直仪,使其发出的测量光线瞄准平面反射镜;(4)转动720齿分度台和391齿分度台组合,使其旋转一个角度,并记录此时的旋转角度值;(5)反向转动旋转平台,使得光电自准直仪发出的测量光线重新瞄准平面反射镜上与步骤(3)相同的瞄准位置;(6)步骤(4)中720齿分度台和391齿分度台组合的旋转角度值即为待测敏感器件转动过的角度值。
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