[发明专利]电子设备使用环境腐蚀性的检测方法及相应的电子设备有效
| 申请号： | 200810119525.1 | 申请日： | 2008-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN101666737A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | 王军 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李赞坚;逯长明 |
| 地址： | 100085北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种电子设备使用环境腐蚀性的检测方法，包括：实时检测一探测部件的腐蚀情况，获得所述探测部件的待比较腐蚀值，所述待比较腐蚀值用于表征所述探测部件被腐蚀的程度，所述探测部件设置在所述电子设备的使用环境中，所述探测部件所用材料的耐腐蚀性能小于或等于所述电子设备中电子元件焊料的耐腐蚀性能；将所述待比较腐蚀值与一预设腐蚀阀值进行比较，获得一腐蚀程度比较结果；所述腐蚀程度比较结果显示所述待比较腐蚀值大于或等于所述预设腐蚀阀值时，产生一用于表征所述电子设备使用环境中发生被腐蚀事件的提示信息。通过实时检测电子设备使用环境中的被腐蚀事件，便于采取应对措施，防止系统故障。本发明还提供一种相应的电子设备。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 使用 环境 腐蚀性 检测 方法 相应 | ||
【主权项】：
1、一种电子设备使用环境腐蚀性的检测方法，其特征在于，包括：实时检测一探测部件的腐蚀情况，获得所述探测部件的待比较腐蚀值，所述待比较腐蚀值用于表征所述探测部件被腐蚀的程度，所述探测部件设置在所述电子设备的使用环境中，所述探测部件所用材料的耐腐蚀性能小于或等于所述电子设备中电子元件焊料的耐腐蚀性能；将所述待比较腐蚀值与一预设腐蚀阀值进行比较，获得一腐蚀程度比较结果；在所述腐蚀程度比较结果显示所述待比较腐蚀值大于或等于所述预设腐蚀阀值时，产生一用于表征所述电子设备使用环境中发生被腐蚀事件的提示信息。
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