[发明专利]在位式气体测量方法和装置有效
| 申请号： | 200810121178.6 | 申请日： | 2008-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN101393115A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 黄伟;顾海涛;王健 | 申请（专利权）人： | 聚光科技（杭州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种在位式气体测量方法，包括以下步骤：a.向光发射和/或光接收区域内通吹扫气体，吹扫气体中含有待测气体成分；b.光源发出测量光；c.测量光中包含的第一光束和第二光束在穿过待测气体之前或之后被分开；其中，第一光束穿过了吹扫气体、待测气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体、待测气体信息的第一信号；第二光束穿过了光发射区域内的吹扫气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体信息的第二信号；d.处理第一信号和第二信号，得到待测气体的参数。本发明还公开了一种用于实施上述方法的在位式测量装置。本发明具有结构简单、安装调试容易、成本低、测量精度高等优点，可广泛应用在冶金、化工、水泥、环保等领域中。 | ||
| 搜索关键词： | 在位 气体 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种在位式气体测量方法，包括以下步骤：a、向光发射和/或光接收区域内通吹扫气体，所述吹扫气体中含有待测气体成分；b、光源发出测量光；c、测量光中包含的第一光束和第二光束在穿过待测气体之前或之后被分开；其中，所述第一光束穿过了吹扫气体、待测气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体、待测气体信息的第一信号；所述第二光束穿过了光发射或光接收区域内的吹扫气体，经吸收后被接收，得到包含吹扫气体信息的第二信号；d、处理所述第一信号和第二信号，得到待测气体的参数。
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