[发明专利]用于为基板装配器件的装置和方法有效
| 申请号： | 200810127812.7 | 申请日： | 2008-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN101336073A | 公开（公告）日： | 2008-12-31 |
| 发明（设计）人： | 蒂洛·布兰迪斯;维尔纳·利格尔;维尔纳·米勒;罗伯特·内格莱 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | H05K13/02 | 分类号： | H05K13/02;H05K13/08 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 章社杲;吴贵明 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种装置(100、200、300、400、500)，用于为基板装配器件，所述装置具有：X－Y定位系统(104)，该定位系统具有至少一个x支架(108、109)；以及至少一个器件保持装置(102)，该器件保持装置可移动地设置在至少一个x支架(108、109)中的一个上，该器件保持装置具有用于检查基板的光学检查系统，并且该系统具有固定在至少一个x之间(108、109)上的摄像机(120)。利用可移动地设置在摄像机(120)上的X－Y定位系统(104)来实现对基板(124、125、126)的表面的至少一些部分的光学检查。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 装配 器件 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种装置(100、200、300、400、500)，用于为基板(124、125、126)装配器件，所述装置具有：-X-Y定位系统(104)，所述X-Y定位系统具有x支架(108、109)；至少一个器件保持装置(102)，所述器件保持装置可移动地设置在所述x支架(108、109)上；-光学检查系统，用于检查所述基板，所述光学检查系统具有至少一个摄像机(120)，所述摄像机可移动地设置在所述x支架(108、109)上，其特征在于，所述器件保持装置(102)和所述摄像机(120)设置在长形的x支架的不同的纵向侧面上。
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