[发明专利]磁盘驱动器装置及介质检测方法无效
| 申请号： | 200810128076.7 | 申请日： | 2008-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN101359498A | 公开（公告）日： | 2009-02-04 |
| 发明（设计）人： | S·G·保罗;D－D·昌 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及磁盘驱动器装置及介质检测方法。根据一个实施例，一种磁盘驱动器装置包括使用多于一个的缺陷检测标准形成的缺陷表。描述了使用不同的缺陷检测标准来检测和映射可以影响驱动器操作的不同尺寸的和特定区域内的缺陷(720、722以及724)的方法和装置。同样，描述了由于利用了错误修正系统因此在选择的区域内可以提供快速并有效的缺陷扫描的方法和装置。示出了在缺陷检测期间使用伺服门脉冲触发读/写门断言的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 磁盘驱动器 装置 介质 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查存储设备的硬盘表面的介质缺陷的方法，其特征在于包括：在第一硬盘表面区域中实施用于缺陷检测的第一标准；以及在第二硬盘表面区域中实施第二标准，所述第二标准具有比所述第一标准小的缺陷检测阈值。
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