[发明专利]热堆式红外线检测装置无效

专利信息
申请号: 200810131341.7 申请日: 2008-08-06
公开(公告)号: CN101363757A 公开(公告)日: 2009-02-11
发明(设计)人: 川口浩二;木村亲吾;田中基树 申请(专利权)人: 日本陶瓷株式会社
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/08
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 张敬强
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 对实施了利用非涂敷硅平凸透镜的光学设计的热堆式红外线检测装置,作为外来干扰对策,需要对非涂敷硅平凸透镜表面实施具有红外线透过区域的选择性的蒸镀涂敷。但是,这种实施蒸镀涂敷的工序需要对透镜分别进行蒸镀涂敷,存在工时提高、以及透镜曲面的蒸镀涂敷而受到成品率的影响,在成本方面存在昂贵的问题。本发明通过向实施了利用非涂敷硅平凸透镜的光学设计的热堆式红外线检测装置组合具有红外线透过区域的选择性的平面滤光器而构成。而且,并不是在非涂敷硅平凸透镜,而是通过将作为另一部件组合的平面滤光器以薄片状态对整体进行蒸镀涂敷,从而能有效地切割成任意尺寸。
搜索关键词: 热堆式 红外线 检测 装置
【主权项】:
1.一种热堆式红外线检测装置,具备硅平凸透镜,其特征在于,硅平凸透镜是不具备红外线透过区域的选择性的非涂敷硅平凸透镜,且另外至少具备一个以上的使红外线透过区域通过蒸镀涂敷而具备选择性的硅平面滤光器。
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