[发明专利]改良式天线测试治具无效
申请号: | 200810132160.6 | 申请日: | 2008-07-21 |
公开(公告)号: | CN101634675A | 公开(公告)日: | 2010-01-27 |
发明(设计)人: | 张志伟;张云通 | 申请(专利权)人: | 耀登科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京天平专利商标代理有限公司 | 代理人: | 孙 刚 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种改良式天线测试治具,其主要在天线测试治具的平台周缘向上设置有吸波材料的下凸缘,而上压板周缘向下设置有吸波材料的上凸缘;当上压板被升降机构下降至接近平台而夹制固定被测试天线时,下凸缘及上凸缘对被测试天线周围形成封闭状态。达到加快测试天线的放置动作,可大为节省测试时间。 | ||
搜索关键词: | 改良 天线 测试 | ||
【主权项】:
1.一种改良式天线测试治具,包括:一底座,一平台,设置于该底座上方,供测试天线水平放置;一架体,垂直于该底座而设置;一上压板,设置于该平台上方,底面设有一层软质海棉;及一升降机构,设置于该架体上,带动该上压板相对于该平台上下升降;其特征在于,该平台周缘向上设置有吸波材料的下凸缘,而该上压板周缘向下设置有吸波材料的上凸缘;该上压板被升降机构下降至接近该平台而夹制固定被测试天线时,该下凸缘及该上凸缘对被测试天线形成封闭状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于耀登科技股份有限公司,未经耀登科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810132160.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:高分辨率共聚焦显微镜
- 下一篇:一种边缘电压值的测试装置