[发明专利]半导体器件的保护电路及包括该保护电路的半导体器件有效
| 申请号： | 200810134167.1 | 申请日： | 2004-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN101330074A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 松野则昭 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | H01L23/58 | 分类号： | H01L23/58;G06F21/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种保护电路，包括：至少一个屏蔽线对，布置所述屏蔽线对来覆盖半导体器件上应该保护的区域，所述屏蔽线对中的一条屏蔽线和另一条屏蔽线具有相同的形状、相等的长度，且分别仅具有一条从起点到终点的路线；信号产生器，将某一电位提供给所述屏蔽线对中的一条屏蔽线和另一条屏蔽线的起点；以及检测器，用以将所述屏蔽线对中的一条屏蔽线的终点和另一条屏蔽线的终点之间的电位差和基准值进行比较，根据比较结果输出欺骗检测信号。防止对半导体器件的欺骗解析、窜改信息。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 保护 电路 包括 | ||
【主权项】：
1.一种保护电路，其特征在于：包括：至少一个屏蔽线对，布置所述屏蔽线对来覆盖半导体器件上应该保护的区域，所述屏蔽线对中的一条屏蔽线和另一条屏蔽线具有相同的形状、相等的长度，且分别仅具有一条从起点到终点的路线；信号产生器，将某一电位提供给所述屏蔽线对中的一条屏蔽线和另一条屏蔽线的起点；以及检测器，用以将所述屏蔽线对中的一条屏蔽线的终点和另一条屏蔽线的终点之间的电位差和基准值进行比较，根据比较结果输出欺骗检测信号。
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