[发明专利]绝缘栅双极型晶体管开关时间参数测试系统无效

专利信息
申请号: 200810138293.4 申请日: 2008-07-15
公开(公告)号: CN101339224A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 肖乾;闫文玉 申请(专利权)人: 科达半导体有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 山东济南齐鲁科技专利事务所有限公司 代理人: 宋永丽
地址: 257091山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明一种绝缘栅双极型晶体管开关时间参数测试系统,包括方波信号发生器、驱动电路、高压电源、专用绝缘栅双极型晶体管插座、负载接入端、示波器,其特征是测试系统由方波信号发生器、方波信号发生器控制的驱动电路、与驱动电路连接的专用绝缘栅双极型晶体管插座、与插座相连接的负载接入端、与负载相连的高压电源、与插座相连的示波器构成;使用的设备简单、制造方便,有利于降低生产成本,提高量产能力。
搜索关键词: 绝缘 栅双极型 晶体管 开关时间 参数 测试 系统
【主权项】:
1、一种绝缘栅双极型晶体管开关时间参数测试系统,包括方波信号发生器、驱动电路、高压电源、专用绝缘栅双极型晶体管插座、负载接入端、示波器,其特征是测试系统由方波信号发生器、方波信号发生器控制的驱动电路、与驱动电路连接的专用绝缘栅双极型晶体管插座、与插座相连接的负载接入端、与负载相连的高压电源、与插座相连的示波器构成。当信号发生器产生方波信号时,绝缘栅双极型晶体管受驱动电路控制,此时可以通过示波器读出上升时间tr、下降时间tf、开通延迟时间td(on)、关断延迟时间td(off)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科达半导体有限公司,未经科达半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810138293.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top