[发明专利]石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法

摘要

本发明公开一种利用X射线荧光分析石油钻井中泥质含量的方法。该方法是采用能量色散型X射线荧光分析仪在石油钻井现场随钻井深度对岩心、岩屑中的化学元素进行连续分析，得出随深度变化的X射线荧光分析数据，采用线性回归方法对所述X射线荧光分析数据进行相关性分析和统计，计算出不同元素之间的相关系数，然后计算某元素与其他11种元素的平均相关系数，从中选出平均相关系数最大的元素；进行泥质含量的计算；绘制出随钻井深度变化的泥质含量曲线。本发明的方法可用于钻井现场，对已钻地层的岩性进行及时、准确地泥质含量分析，并根据泥质含量分析数据进行岩性和储集性能的定性和定量评价，形成基于X射线荧光分析的随钻地质解释评价方法，能正确有效地指导石油天然气勘探开发钻井生产。

主权项

1、一种石油钻井中X射线荧光泥质含量的分析方法，其特征在于：包括以下步骤，(1)采用能量色散型X射线荧光分析仪在石油钻井现场随钻井深度对岩心、岩屑中的化学元素进行连续分析，得出随深度变化的X射线荧光分析数据，所述化学元素为硅、铝、铁、钙、钾、镁、钛、磷、锰、硫、钡和氯共12种；(2)采用线性回归方法对所述X射线荧光分析数据进行相关性分析和统计，计算出不同元素之间的相关系数，然后计算某元素与其他11种元素的平均相关系数，从中选出平均相关系数最大的元素A；(3)用A元素的分析数据作为泥质含量计算的基础数据进行泥质含量的计算，其计算公式为：$V_{\mathrm{SH}}=\frac{2^{\mathrm{FC}*\mathrm{SH}}-1}{2^{\mathrm{FC}}-1}\times 100\%式中：A测为A元素X射线荧光分析值，Amax为纯泥岩A元素X射线荧光分析最大值，Amin为纯砂岩A元素X射线荧光分析最小值，FC为泥质含量计算的经验系数，Vsh为泥质含量；(4)进行数据处理，并绘制出随钻井深度变化的泥质含量曲线；(5)利用泥质含量值和泥质含量曲线变化进行岩石储集性能评价。$