[发明专利]测量介质表面氡析出率的方法及装置

摘要

一种测量介质表面氡析出率的方法及装置，测量方法包括测量过程和计算过程。测量时将积氡室扣在待测介质表面上，再将一个密封的测量室与积氡室连接形成一个回路，当收集一定时间T-5分钟后，开启抽气泵用小于3L/min的小流率将积氡室与测量室内的氡混合5分钟，此时测量室内的氡浓度即为T时刻积氡室的氡浓度，接着再以T≥10min为一个周期反复测量，这样可测量得到一组等时间间隔的积氡室内氡浓度数据；再根据理论公式可以求出被测介质表面的氡析出率。测量装置由积氡室、抽气泵、测量室、二次仪表和干燥管组成，抽气泵的一端通过管道与积氡室连接，抽气泵的另一端通过管道与测量室连接，干燥管的一端通过管道与积氡室连接，干燥管的另一端通过管道与测量室连接，二次仪表与测量室相连。

主权项

1、一种测量介质表面氡析出率的方法，其特征是：它包括测量过程和计算过程：一、测量过程将积氡室扣在待测介质表面上，由于介质内的氡原子在扩散与渗流作用下，逸出表面进入积氡室，积氡室内的氡因泄漏和反扩散而逸出，上述因素导致积氡室内氡浓度变化，再将一个密封的测量室与积氡室连接形成一个回路，当收集一定时间T-5分钟后，开启抽气泵用小于3L/min的小流率将积氡室与测量小室内的氡混合5分钟，此时测量室内的氡浓度即为T时刻积氡室的氡浓度，接着再以T≥10min为一个周期反复测量，这样可测量得到一组等时间间隔的积氡室内氡浓度数据；采用双室法测量不同时刻积氡室内的氡浓度，从而实现了将动态测量转变为静态测量，并且双室间加干燥管消除湿度对静电收集灵敏测氡方法的影响，同时采用等时间间隔法消除泄露和反扩散的影响以及环境氡和介质表面钍射气干扰；二、计算过程将积氡室扣在待测介质表面上，考虑泄漏和反扩散，消除环境本低及钍射气的干扰后，积氡室内氡浓度变化可用式(1)描述：dCdt=JSV-λC-RC---(1)]]>为单位时间析出到积氡室中的氡引起氡浓度的变化；J为被测介质表面氡析出率；S为积氡室的底面积；V为总体积；λC为积氡室内氡的衰变引起的氡浓度变化；RC为积氡室内氡的泄漏和反扩散引起的氡浓度变化；λ为氡的衰变常数(2.1×10^-6s^-1)；C为积氡室内积累t时刻的氡浓度；R为氡的泄漏和反扩散率；t为集氡的时间；令λ_e＝λ+R；令环境氡浓度为C₀，即t＝0时，积氡室内氡的浓度为C₀，式(1)的解为：C(t)=JSλeV(1-e-λet)+C0e-λet---(2)]]>进行时间间隔为T的连续测量，则相邻两次测量积氡室中氡浓度有如下关系：Cn(t)=JSλeV(1-e-λet)+Cn-1e-λet---(3)]]>令A=JSλeV(1-e-λeT),]]>B=e-λeT,]]>则有：C_n＝A+BC_n-1                          (4)为了提高测量精度，可多次测量，用最小二乘法来计算A和B，最后求出λ_e和J。