[发明专利]开关元件、开关元件的制造方法及存储元件阵列有效
申请号: | 200810144594.8 | 申请日: | 2008-08-22 |
公开(公告)号: | CN101373787A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | 古田成生;高桥刚;小野雅敏 | 申请(专利权)人: | 株式会社船井电机新应用技术研究所;船井电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/41 | 分类号: | H01L29/41;H01L29/76;H01L27/12;H01L21/28;B82B1/00;B82B3/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王玉双 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供能够有效利用的开关元件、开关元件的制造方法、以及能够有效利用所配置的开关元件的存储元件阵列的制造方法。开关元件(1)具有:绝缘性基板(10);设置在绝缘性基板(10)上的第一电极(20)和第二电极(40);电极间间隙部(50),其设置在第一电极(20)和第二电极(40)之间,具有通过向第一电极(20)和第二电极(40)之间施加规定电压而产生电阻开关现象的纳米级的间隙;密封构件(60),其在保持间隙的状态下密封电极间间隙部(50)。 | ||
搜索关键词: | 开关 元件 制造 方法 存储 阵列 | ||
【主权项】:
1.一种开关元件,其特征在于,具有:绝缘性基板;设置在所述绝缘性基板上的第一电极和第二电极;电极间间隙部,其设置在所述第一电极和所述第二电极之间,具有通过向所述第一电极和所述第二电极之间施加规定电压而产生电阻的开关现象的纳米级的间隙;密封构件,其在保持所述间隙的状态下密封所述电极间间隙部。
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