[发明专利]用于量化正电子发射断层造影中放射性示踪物记录的方法有效

专利信息
申请号: 200810144975.6 申请日: 2008-08-18
公开(公告)号: CN101371788A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 阿恩·亨格勒;拉尔夫·斯特雷克 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B5/055;A61K49/06
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域中至少一种放射性示踪物的记录进行量化的方法,其中,在考虑至少一个关于患者血管(14)的渗透性、特别是在感兴趣身体区域中、的渗透性信息的条件下,对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域的放射性示踪物的记录进行量化。
搜索关键词: 用于 量化 正电子 发射 断层 造影 放射性 示踪物 记录 方法
【主权项】:
1.一种对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域中至少一种放射性示踪物的记录进行量化的方法,其特征在于,在考虑至少一个关于患者血管(14)的渗透性的、在动态对比度加强磁共振断层造影测量的框架内所确定的渗透性信息的条件下,对正电子发射断层造影测量感兴趣的患者身体区域的放射性示踪物的记录进行量化,并且在考虑磁共振断层造影所使用的对比剂和放射性示踪物的不同渗透性和/或对比剂的弛豫性的条件下进行所述量化。
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