[发明专利]半导体元件及其制造方法无效
申请号: | 200810146367.9 | 申请日: | 2008-08-27 |
公开(公告)号: | CN101425465A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | G·涅姆采夫;王晖;郑荫平;G·M·格利瓦纳 | 申请(专利权)人: | 半导体元件工业有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06;H01L29/423 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 美国亚*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种包括场板和半导体器件的半导体元件以及一种制造所述半导体元件的方法。半导体材料包括设置在半导体衬底上的外延层。场板槽延伸进半导体材料,且场板在场板槽中形成。一个栅槽在两个邻近的场板槽之间形成,而另一个栅槽邻近场板槽中的一个形成。栅结构在栅槽中形成,其中每个栅结构包括栅氧化物和栅导体。导体将场板电耦合到一起。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1. 一种用于制造半导体元件的方法,其包括:提供具有相对的第一表面和第二表面的半导体材料;在所述半导体材料中形成第一槽和第二槽,其中所述第一槽和第二槽具有至少一个侧壁,并从所述第一表面延伸进所述半导体材料第一距离;在所述第一槽和第二槽中形成电介质材料;在所述第一槽和第二槽中形成半导体材料,在所述第一槽中的所述电介质材料在所述第一槽中的所述半导体材料和所述第一槽的所述至少一个侧壁之间,而在所述第二槽中的所述电介质材料在所述第二槽中的所述半导体材料和所述第二槽的所述至少一个侧壁之间;以及通过以下步骤在所述第一槽和第二槽之间形成栅结构:在所述半导体材料中形成第三槽,所述第三槽具有至少一个侧壁,并从所述第一表面延伸进所述半导体材料第二距离;在所述第三槽中形成栅电介质;以及在所述第三槽中形成半导体材料,其中所述栅电介质在所述第三槽的所述至少一个侧壁和所述第三槽中的所述半导体材料之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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