[发明专利]一种IOB测试方法有效
申请号: | 200810148116.4 | 申请日: | 2008-12-30 |
公开(公告)号: | CN101452050A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 但科;曾波;侯伶俐;李文昌;冯新鹤 | 申请(专利权)人: | 成都华微电子系统有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317;G01R31/02 |
代理公司: | 成都惠迪专利事务所 | 代理人: | 刘 勋 |
地址: | 610041四川省成都市高*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种IOB测试方法,涉及集成电路技术,特别涉及对FPGA的检测技术。本发明包括以下步骤:1)串联所有的IOB;2)从第一个IOB输入测试信号,检测最后一个IOB的输出信号;3)从最后一个IOB输入测试信号,检测第一个IOB的输出信号。本发明的有益效果是,测试快速、准确,效率高,包括了对bonding线的测试,保证了通过测试的器件的每个管脚是可用的,克服了现有技术的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 iob 测试 方法 | ||
【主权项】:
1、一种IOB测试方法,其特征在于,包括以下步骤:1)串联所有的IOB;2)从第一个IOB输入测试信号,检测最后一个IOB的输出信号;3)从最后一个IOB输入测试信号,检测第一个IOB的输出信号。
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