[发明专利]模式识别方法、参数学习方法和设备有效
申请号: | 200810148863.8 | 申请日: | 2008-09-27 |
公开(公告)号: | CN101398900A | 公开(公告)日: | 2009-04-01 |
发明(设计)人: | 鸟居宽;森克彦;御手洗裕辅;佐藤博;金田雄司;铃木崇士 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所 | 代理人: | 刘新宇;陈立航 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种模式识别方法、参数学习方法和设备。在通过依次执行多个分类处理的组合将输入数据分类为预定类的模式识别方法中,至少一个所述分类处理包括:映射步骤,用于在N(N≥2)维特征空间中将输入数据映射为对应点;判断步骤,用于基于对应点,判断是否执行下一分类处理;以及选择步骤,用于当在判断步骤中判断为应当执行下一分类处理时,基于对应点选择接下来要执行的分类处理。 | ||
搜索关键词: | 模式识别 方法 参数 学习方法 设备 | ||
【主权项】:
1. 一种模式识别方法,用于通过依次执行多个分类处理的组合将输入数据分类成第一类或第二类,其中,所述多个分类处理中的至少一个分类处理包括:映射步骤,用于在n维特征空间中将所述输入数据映射为对应点,其中,n是等于或大于2的整数;判断步骤,用于基于在所述映射步骤中映射得到的所述对应点在所述n维特征空间中的位置,判断是所述输入数据属于所述第一类还是应当执行下一分类处理;以及选择步骤,用于当在所述判断步骤中判断为应当执行下一分类处理时,基于所述对应点的所述位置,选择接下来应当执行的分类处理。
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