[发明专利]柔性测试夹具有效

专利信息
申请号: 200810149660.0 申请日: 2008-09-16
公开(公告)号: CN101387656A 公开(公告)日: 2009-03-18
发明(设计)人: 马克·A·迪克森;爱德华·J·柯林斯;罗伯特·格雷戈里·尤可纳 申请(专利权)人: 加比尔电路公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R1/073;G01R31/00
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 朦;王艳春
地址: 美国佛*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种在具有多个源的测量设备上对具有以预定方式排列的多个测试点的电路板(ECB)进行测量的系统。该系统包括接口夹具,该夹具在第一表面上具有以阵列排列的多个接触垫。接触垫可以按照预定图样与测量系统的多个源电连接,其中至少两个接触垫以多对一的方式电连接到多个源之一上。该系统还包括测试夹具,该测试夹具可移除地连接于接口夹具的第一表面上。测试夹具包括具有多个开孔的上探针盘以及与上探针盘平行的下探针盘。下探针盘包括与上探针盘中的开孔相关联的多个开孔。测试夹具还包括延伸穿过上探针盘和下探针盘中的关联开孔的多个探针,所述探针与接触垫之一接触,并通过关联开孔被引导到ECB的测试点上。
搜索关键词: 柔性 测试 夹具
【主权项】:
1. 一种用于在测量设备上测试电路板(ECB)的系统,所述测量设备具有多个源,所述ECB具有以预定排列设置的多个测试点,所述系统包括:接口夹具,其具有在第一表面上排列为阵列的多个接触垫,所述接触垫按照预定方式电连接于所述测量系统中的所述多个源,其中,所述接触垫中的至少两个以多对一的关系电连接于所述多个源中的一个;以及测试夹具,其可去除地连接于所述接口夹具的所述第一表面,所述测试夹具包括:具有多个开孔的上探针盘;以及平行于所述上探针盘的下探针盘,所述下探针盘具有多个开孔,以及多个探针,其中每个探针都延伸穿过所述上探针盘中的一个开孔和所述下探针盘中与之关联的一个关联开孔,所述每个探针均接触所述接触垫之一,并且每个所述关联开孔将所述每个探针引导到所述ECB的所述多个测试点之一上。
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