[发明专利]薄膜温差电材料赛贝克系数测试系统及方法有效
| 申请号： | 200810153534.2 | 申请日： | 2008-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN101413908A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 王为;李菲晖;李晋楼 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/14 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人： | 王 丽 |
| 地址： | 300072天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及薄膜温差电材料塞贝克系数测试系统及方法。包括测试装置和控制及测试电路系统；待测试样放置在位于试样支撑架上的绝缘片上，并通过试样固定卡分别与二个试样测温热电偶紧密接触；通过位于待测试样一侧的电加热块在待测试样的内部建立起温差，且沿温差方向间隔分布的二个试样测温热电偶测得所在位置处薄膜温差电材料的温度，分别借助于由这两个试样测温热电偶中的各一根导线引出的Seebeck电动势测量线，测得试样在这两个测温热电偶所在位置处薄膜温差电材料内部产生的Seebeck电动势；采用本发明薄膜温差电材料塞贝克系数测试系统的结构及方法，可以快速准确地测量薄膜温差电材料的塞贝克系数，解决了目前薄膜温差电材料塞贝克系数无法测量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 温差 材料 贝克 系数 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种薄膜温差电材料塞贝克系数测试系统，其特征是由测试装置和控制及测试电路系统两部分构成。
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