[发明专利]一种双曲晶体X荧光光谱分析仪及其工作方法无效
| 申请号： | 200810154564.5 | 申请日： | 2008-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN101581680A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 宋欣;姜文贵;宋晓琨;张晓颖;李海建;杨伟清;张磊;张朝捷 | 申请（专利权）人： | 中国建筑材料检验认证中心;北京逸东机电技术开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100024*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机；其工作方法为：(1)X射线激发源产生一定波长范围的X射线照射在样品上；(2)激发出各元素的特征X射线，特征X射线进入分光测量室内，X射线探测器接收并转换为电脉冲信息；(3)电脉冲信息由脉冲幅度信息采集与处理器记录，并传送到上位分析计算机；(4)上位分析计算机给出所需的测试结果。优越性在于采用四自由度联动机构，并以该机构为技术核心，把有限、分立波长的弯曲晶体X荧光光谱分析仪提升为连续衍射分光与探测的X荧光光谱分析仪，从而扩大弯曲晶体X荧光光谱分析仪的分析范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 荧光 光谱分析 及其 工作 方法 | ||
【主权项】：
1、一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于它包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机；所说的分光测量室依真空管路接口与抽真空部件对接，依X射线入射法兰接口与样品室对接，依电源与信息交换接口连通供电电源，依电缆通讯线分别连通信息采集与处理器和仪器系统控制器；所说的样品室分别连接送样器和X射线激发源；所说的信息采集与处理器依信息与控制线连通仪器系统控制器；所说的仪器系统控制器依标准接口连通上位分析计算机。
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