[发明专利]借助带有气动调节部件的抽吸通道捡取多个电子元器件无效
申请号: | 200810161849.1 | 申请日: | 2008-10-09 |
公开(公告)号: | CN101409250A | 公开(公告)日: | 2009-04-15 |
发明(设计)人: | 蒂洛·布兰迪斯;克里斯蒂安·弗里克;丹尼尔·特雷贝斯 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H05K13/02;H05K13/04 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 章社杲;李 慧 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种用于同时捡取多个电子元器件(152)的设备(100)。该设备(100)尤其适用于同时从晶片装置中捡取多个半导体芯片(152),该晶片装置具有支承薄膜(150)和附着在支承薄膜(150)上的半导体芯片(152)。设备(100)具有基本部件(110),其具有多个抽吸通道(112),这些抽吸通道从基本部件(110)的正面(115)延伸至基本部件(110)的背面(116),该设备还具有多个气动调节部件(120),它们分别对应于一个抽吸通道(112)。气动调节部件(120)分别这样来设置,即当空气流的强度超过预设的阈值时,至少部分地封闭住流过各个抽吸通道(112)的空气流。此外,还描述了一种用于同时捡取多个电子元器件(152)的方法,该方法应用了上述的元器件捡取设备。 | ||
搜索关键词: | 借助 带有 气动 调节 部件 抽吸 通道 捡取多个 电子元器件 | ||
【主权项】:
1.一种用于同时捡取多个电子元器件(152)的设备,尤其是用于同时从一个晶片装置中捡取多个半导体芯片(152),所述晶片装置具有支承薄膜(150)和附着在所述支承薄膜(150)上的半导体芯片(152),所述设备(100)包括基本部件(110),具有多个抽吸通道(112),所述这些抽吸通道从所述基本部件(110)的正面(115)延伸至所述基本元器件(110)的背面(116);多个气动调节部件(120),它们分别对应于一个抽吸通道(112),其中,所述气动调节部件(120)分别这样地设置,即当空气流的强度超过预设的阈值时,至少部分地封闭住流过各个所述抽吸通道(112)的空气流。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造