[发明专利]一种温变环境下光源的光学性能参数的测试系统

摘要

本发明公开的温变环境下光源的光学性能参数测试系统，包括CPU处理模块、光功率计、光谱仪、光偏振度仪、显示模块、EVOA衰减器、分束器和电源模块、温度计接口、光学接口和光源驱动接口。该光源的光学性能参数测试系统能在温度变化环境中(-40-80℃)有效测试光源的输出功率、光谱、偏振度和温度值，并可得到中心波长和半峰值全带宽，具有实时性好、功能多、使用方便等优点，能广泛应用于850-1650nm的光源在温变条件下的光学性能测试中。

主权项

1. 一种温变环境下光源的光学性能参数的测试系统，其特征在于，包括CPU处理模块(1)、光功率计(2)、光谱仪(3)、光偏振度仪(4)、显示模块(5)、EVOA衰减器(6)、分束器(7)和电源模块(8)、温度计接口(9)、光学接口(10)和光源驱动接口(11)，其中，光功率计(2)、光谱仪(3)、光偏振度仪(4)和温度计接口(9)分别与CPU处理模块(1)相连，与CPU处理模块(1)实现信号双向传输；显示模块(5)，用于实时显示待测光源的光学性能参数，与CPU处理模块(1)相连；EVOA衰减器(6)，用于衰减接收到的光信号，EVOA衰减器(6)的输入端与光学接口(10)相连，输出端与分束器(7)的输入端相连；分束器(7)，用于将接收到的光信号三等分后分别传送给光功率计(2)、光谱仪(3)和光偏振度仪(4)；电源模块(8)，用于给CPU处理模块(1)、显示模块(5)、EVOA衰减器(6)和光源驱动接口(11)供电。