[发明专利]测定光谱仪中杂散光比率的方法及装置无效
| 申请号： | 200810162508.6 | 申请日： | 2008-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN101413825A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 叶华俊;刘立鹏 | 申请（专利权）人： | 聚光科技（杭州）有限公司;北京聚光世达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J1/10;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，具体为：a.使用特定光纤和透过光纤连接光源与被测光谱仪，从而分别得到特定光谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配，所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内；b.比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂散光比率。本发明还公开了一种用于实施上述方法的装置。本发明具有方法设计合理，能有效、快速的测定杂散光比率，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的优点，可广泛应用于光谱仪性能的检测中。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 光谱仪 散光 比率 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，包括以下步骤：a、使用特定光纤和透过光纤连接光源和被测光谱仪，从而分别得到特定光谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配；所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内；b、比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂散光比率。
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