[发明专利]一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法无效
申请号: | 200810163500.1 | 申请日: | 2008-12-17 |
公开(公告)号: | CN101441174A | 公开(公告)日: | 2009-05-27 |
发明(设计)人: | 周骏;马佑桥;丁海芳;马伟涛;冯亚萍;刘晓 | 申请(专利权)人: | 宁波大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01N25/16 |
代理公司: | 宁波奥圣专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 程晓明 |
地址: | 315211浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置及方法,包括底座、光源组件和条纹观测组件,底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置,光源组件和条纹观测组件活动连接在支架上,样品台上置放有试样,加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件,电热器件置放在样品台内,温度测量装置分别与样品台和恒温调节控制器连接,通过旋转第一、第二螺旋设定所需的角度,移动光源组件可使光源发射的光照射到介质膜上,移动条纹观测组件可观测到整个干涉条纹,利用加热器件对试样加热,观测不同温度下固定位置上移过的干涉条纹数目,由此测得介质的热光系数和热膨胀系数;此外,装置结构简单、测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 介质 系数 热膨胀 装置 方法 | ||
【主权项】:
1、一种测量介质热光系数和热膨胀系数的装置,其特征在于包括底座、光源组件和条纹观测组件,所述的底座上设置有支架、由金属材料制成的中空样品台、加热装置和温度测量装置,所述的光源组件和所述的条纹观测组件活动连接在所述的支架上,所述的样品台上置放有试样,所述的加热装置包括电源、恒温调节控制器和电热器件,所述的恒温调节控制器与所述的电热器件连接,所述的电热器件置放在所述的样品台内,所述的温度测量装置分别与所述的样品台和所述的恒温调节控制器连接。
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