[发明专利]光刻设备和器件制造方法以及测量系统有效

专利信息
申请号: 200810166155.7 申请日: 2004-10-21
公开(公告)号: CN101398633A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: M·H·M·比姆斯;E·A·F·范德帕斯奇 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;H01L21/027
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王波波
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及光刻设备,它包括:辐射系统,用以提供投影辐射线束;投影系统,用以把投影线束投影在衬底的目标部分上;运动物体;位移装置,用以使运动物体在第一方向和不同于第一方向的第二方向上相对于投影系统运动;和测量装置,用以测量运动物体在基本上垂直于第一方向和第二方向的第三方向上的位移。按照本发明的光刻设备的特征在于包括编码器系统。
搜索关键词: 光刻 设备 器件 制造 方法 以及 测量 系统
【主权项】:
1. 一种光刻设备,它包括:辐射系统,用以提供投影辐射线束;投影系统,用以把所述投影线束投影在衬底的目标部分上;运动物体;位移装置,用以使所述运动物体基本上在第一方向和不同于第一方向的第二方向上相对于所述投影系统运动;测量装置,用以测量所述运动物体在基本上垂直于所述第一方向和所述第二方向的第三方向上的位移,其特征在于,所述测量装置包括线束源,所述线束源适合于向分束器发送偏振辐射线束,所述分束器适合于从所述线束源把所述偏振辐射线束射向反射面,所述反射面在所述第三方向上与辐射吸收面相邻,所述辐射吸收面用于吸收任何落于其上的偏振线束第一部分的任何辐射,所述反射面适合于接收所述偏振辐射线束的所述第一部分的一部分,并将所述偏振辐射线束的所述第一部分的所述部分反射到接收传感器,所述接收传感器在所述第三方向上检测被所述反射面反射的偏振辐射线束相对于所述接收传感器的任何位移。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于ASML荷兰有限公司,未经ASML荷兰有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810166155.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top