[发明专利]非接触式量测变形值的量测系统及其方法无效

专利信息
申请号: 200810168048.8 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN101685003A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 郑兆希;胡维彦;张新民;李亮宏 申请(专利权)人: 向熙科技股份有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 杨俊波
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露一种非接触式量测变形值的量测系统及其方法。此量测系统包含一升降装置及复数个测距装置。升降装置具有一平台、一或二立柱及一升降手臂。平台上放置一待测工件,立柱设于平台上,升降手臂可以在立柱上升降,并载有可抽换的可抽换板。而此些测距装置一一设于可抽换板的复数个预定位置,每一测距装置具有一光束发射单元及一光束接收单元。当进行量测时,由升降手臂升降可抽换板,使测距装置与待测工件相隔一预定距离,以由光束发射单元发射光束至待测工件,使光束反射至光束接收单元,并由测距装置测出距离值,而根据距离值算出待测工件的变形值。
搜索关键词: 接触 式量测 变形 系统 及其 方法
【主权项】:
1、一种非接触式量测待测工件变形值的量测系统,其特征在于,至少包含:一高度可调节的量测装置,包含一平台,至少一立柱,一升降手臂,一可抽换板,该可抽换板平行于该平台而由该升降手臂所夹持,该升降手臂可在该至少一立柱上升降;复数个测距装置分别设于该可抽换板的预设位置上,每一该测距装置设有一光束发射单元及一光束接收单元;当进行平台上一待测工件的变形量测时,以该复数个测距装置量取相同于该待测工件的参考工件的复数个参考距离值,续而量取该待测工件相应位置的复数个距离值,比较其差异,量测时,先调整该升降手臂的高度至一默认值,再以该复数个测距装置的光束发射单元发射光束至该待测工件或该参考工件,并各自由该复数个测距装置的光束接收单元所接受来进行距离量测,通过该待测工件及该参考工件距离的比较即可知变形量。
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