[发明专利]光电二极管阵列、光电二极管检测系统和光学编码器有效
| 申请号： | 200810168162.0 | 申请日： | 2008-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN101403626A | 公开（公告）日： | 2009-04-08 |
| 发明（设计）人： | R·E·富兰克林 | 申请（专利权）人： | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26;G01D5/34;G01D5/347 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 胡莉莉;刘春元 |
| 地址： | 德国特劳*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及光电二极管阵列、光电二极管检测系统和光学编码器。用于光学编码器的光电二极管检测器阵列包括光电二极管序列，该光电二极管序列在相邻的光电二极管之间具有在第一节距和第二节距之间交替的节距，其中第二节距不同于第一节距。 | ||
| 搜索关键词： | 光电二极管 阵列 检测 系统 光学 编码器 | ||
【主权项】：
1.一种用于光学编码器的光电二极管检测器阵列，该光电二极管检测器阵列包括：光电二极管序列，该光电二极管序列在相邻的光电二极管之间具有在第一节距和第二节距之间交替的节距，第二节距不同于第一节距。
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