[发明专利]半导体衬底的制造方法、半导体装置、及电子设备有效
申请号: | 200810169882.9 | 申请日: | 2008-10-10 |
公开(公告)号: | CN101425449A | 公开(公告)日: | 2009-05-06 |
发明(设计)人: | 下村明久;井坂史人;永野庸治;桃纯平 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/20;H01L21/762;H01L21/84 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 郭 放 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 制造隔着缓冲层而具有单晶半导体层的半导体衬底。对半导体衬底掺杂氢,形成包含大量氢的损伤层。在将单晶半导体衬底和支撑衬底接合在一起之后,加热半导体衬底,在损伤区域中分离单晶半导体衬底。通过从具有单晶半导体层的一侧对单晶半导体层照射激光束,使单晶半导体层的照射激光束的区域的从表面有深度方向的一部分区域熔化,基于不熔化而留下的单晶半导体层的平面取向进行再晶化,恢复结晶性,并且使单晶半导体层的表面平坦化。 | ||
搜索关键词: | 半导体 衬底 制造 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
1. 一种半导体衬底的制造方法,该半导体衬底具有支撑衬底以及所述支撑衬底上的单晶半导体层,包括如下步骤:对单晶半导体衬底添加离子,在所述单晶半导体衬底中以预定深度形成损伤层;在所述单晶半导体衬底上形成缓冲层;隔着所述缓冲层将所述单晶半导体衬底和所述支撑衬底贴紧;对所述单晶半导体衬底进行加热,以所述损伤层为劈开面从所述支撑衬底分离所述单晶半导体衬底的一部分;以及从所述单晶半导体衬底一侧对所述单晶半导体层照射激光束,使从照射激光束的所述单晶半导体层的表面向深度方向的区域熔化,并且使所述单晶半导体层再晶化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造