[发明专利]半导体衬底的制造方法、半导体装置、及电子设备有效

专利信息
申请号: 200810169882.9 申请日: 2008-10-10
公开(公告)号: CN101425449A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 下村明久;井坂史人;永野庸治;桃纯平 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/20;H01L21/762;H01L21/84
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 郭 放
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 制造隔着缓冲层而具有单晶半导体层的半导体衬底。对半导体衬底掺杂氢,形成包含大量氢的损伤层。在将单晶半导体衬底和支撑衬底接合在一起之后,加热半导体衬底,在损伤区域中分离单晶半导体衬底。通过从具有单晶半导体层的一侧对单晶半导体层照射激光束,使单晶半导体层的照射激光束的区域的从表面有深度方向的一部分区域熔化,基于不熔化而留下的单晶半导体层的平面取向进行再晶化,恢复结晶性,并且使单晶半导体层的表面平坦化。
搜索关键词: 半导体 衬底 制造 方法 装置 电子设备
【主权项】:
1. 一种半导体衬底的制造方法,该半导体衬底具有支撑衬底以及所述支撑衬底上的单晶半导体层,包括如下步骤:对单晶半导体衬底添加离子,在所述单晶半导体衬底中以预定深度形成损伤层;在所述单晶半导体衬底上形成缓冲层;隔着所述缓冲层将所述单晶半导体衬底和所述支撑衬底贴紧;对所述单晶半导体衬底进行加热,以所述损伤层为劈开面从所述支撑衬底分离所述单晶半导体衬底的一部分;以及从所述单晶半导体衬底一侧对所述单晶半导体层照射激光束,使从照射激光束的所述单晶半导体层的表面向深度方向的区域熔化,并且使所述单晶半导体层再晶化。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810169882.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top