[发明专利]半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810169890.3 申请日: 2008-10-10
公开(公告)号: CN101409223A 公开(公告)日: 2009-04-15
发明(设计)人: 山崎舜平;志知武司;铃木直树 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/336;H01L21/84;H01L21/20;H01L21/762
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 屠长存
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的目的在于根据被要求的功能控制晶体管的电特性,而实现半导体装置的高性能化及低耗电化。另外,本发明的目的还在于高成品率及高生产率地制造这种半导体装置,而不使其制造工序复杂化。在从半导体衬底分离晶体管的半导体层并转载到具有绝缘表面的衬底的支撑衬底之前,对半导体衬底添加为了控制包含在半导体装置中的晶体管的阈值电压并赋予一导电类型的杂质元素。
搜索关键词: 半导体 装置 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造方法,包括如下工序:对半导体衬底从所述半导体衬底的表面添加赋予一导电类型的杂质元素来形成杂质区域;对所述半导体衬底的表面照射离子,来在所述半导体衬底的表面的比所述杂质区域下方形成脆化层;在所述半导体衬底的表面上形成绝缘层;使支撑衬底和所述半导体衬底接合并其中间夹有所述绝缘层;进行在所述脆化层中产生裂缝的热处理并在所述脆化层处分离所述半导体衬底,来在所述支撑衬底上形成包含所述杂质区域的半导体层;以及将所述半导体层的所述杂质区域用作沟道形成区域来形成场效应晶体管。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810169890.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top