[发明专利]环绕栅极型半导体器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200810177544.X 申请日: 2008-11-21
公开(公告)号: CN101635309A 公开(公告)日: 2010-01-27
发明(设计)人: 张太洙 申请(专利权)人: 海力士半导体有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/12;H01L29/10;H01L21/336
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人: 顾红霞;何胜勇
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开一种环绕栅极型半导体器件及其制造方法。通过将硅锗柱和围绕硅锗柱的硅层用作竖直沟道,该环绕栅极型半导体器件提高了电子和空穴的迁移率。栅电极形成为围绕竖直沟道。当将半导体器件用作nMOSFET时,由于硅锗柱而产生应变的硅层用作沟道以增加电子迁移率。当将半导体器件用作pMOSFET时,硅锗柱用作沟道以增加空穴迁移率。由此,无论晶体管为何种类型,半导体器件都可以增强电流供应能力。
搜索关键词: 环绕 栅极 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种环绕栅极型半导体器件,包括:竖直沟道柱,其在硅基板上形成并且包含锗;硅层,其围绕所述竖直沟道柱;以及栅电极,其围绕所述硅层。
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