[发明专利]基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统无效
申请号: | 200810180028.2 | 申请日: | 2008-11-20 |
公开(公告)号: | CN101738173A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 宫辉力;叶泽田 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学;北京四维远见信息技术有限公司 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26;G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100037 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统属于三维空间信息获取技术领域,它解决了该领域建立三维激光扫描测量系统中的高精度转角测量及控制技术难题。该系统利用成熟的2D激光扫描测量技术,通过应用单片机、光栅和双读数头构建了可以消除或减弱偏心误差影响的转角测量单元;实现了系统中的转台旋转控制、转角测量控制、激光测量控制的协调同步,组建了一个三维激光扫描测量系统。此发明可以进行室内室外的三维空间数据的快速采集,为规划、文物保护、测绘、公安刑侦勘察、交通等部门提供一个进行快速三维空间数据采集的技术设备平台。 | ||
搜索关键词: | 基于 单片机 光栅 读数 三维 激光 扫描 测量 系统 | ||
【主权项】:
要求对该发明的技术方案进行保护。该发明的技术特征是:利用(1)、(7)、(8)组成系统的转台机械部分;利用(2)、(3)、(4)、(5)组成系统的高精度转角测量部分;利用(9)作为系统的二维激光扫描测量部分;利用(6)进行系统的整体协调控制,从而形成一个基于单片机光栅双读数头的三维激光扫描测量系统的技术方案。
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