[发明专利]电光装置、电子设备以及外光检测装置及方法有效
| 申请号： | 200810181663.2 | 申请日： | 2008-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN101452674A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 二矢雅俊;田尻宪一;小泽裕 | 申请（专利权）人： | 爱普生映像元器件有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/34 | 分类号： | G09G3/34;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 陈海红;段承恩 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电光装置、电子设备以及外光检测装置及方法。本发明适宜地排除电光装置自身射出的光的影响，并且适宜地检测电光装置的周围的外光的光强度。电光装置(1)具备：射出显示光的显示单元(100，400)；使显示光的射出停止的发光停止单元(120)；在显示光的射出停止的期间，接受外光的受光单元(131)；累计由受光单元接受的外光的受光量的累计单元(112)；以及根据直到受光量的累计值超过规定的阈值为止所需要的时间，计算外光的光强度的计算单元(114)。 | ||
| 搜索关键词： | 电光 装置 电子设备 以及 检测 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种电光装置，其特征在于，具备：射出显示光的显示单元；使上述显示单元的上述显示光的射出停止的发光停止单元；在上述显示光的射出停止的期间，接受上述显示单元的周围的外光的受光单元；累计由上述受光单元接受的上述外光的受光量的累计单元；以及根据直到上述受光量的累计值超过规定的阈值为止所需要的时间，计算上述外光的光强度的计算单元。
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