[发明专利]阵列测试装置

摘要

本发明公开了一种阵列测试装置，其对显示面板的基板上的多个电极中是否存在电缺陷进行测试。该阵列测试装置包括至少一个光源和至少一个调制器。光源设置于基板的与调制器所设置的位置相对的一侧，光源与调制器一一对应，向相应的调制器发射光，并被移动到与调制器相同的位置。光源的尺寸与调制器的一样小，因而光源的亮度差明显减小。因此，光源朝向基板发射均匀的光以向调制器提供均匀的光，从而能够使根据面板的电极中是否存在缺陷而改变的光的量稳定。因而，测试阵列的检测单元测量通过调制器的光的量，并且精确地确定电极是否具有缺陷，从而提高面板缺陷检测的可靠性。

主权项

1. 一种阵列测试装置，包括：至少一个调制器，其设置于待测试的基板的一侧，并且沿第一轴线移动；以及至少一个光源，. 其具有的尺寸与所述调制器的尺寸相对应，设置成与所述调制器一一对应并向相应的调制器发射光，并且当在所述基板上进行测试时所述光源被移动到与所述调制器相同的位置。