[发明专利]一种X射线荧光光谱微量样品制样及其制样方法有效
| 申请号： | 200810182312.3 | 申请日： | 2008-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN101413854A | 公开（公告）日： | 2009-04-22 |
| 发明（设计）人： | 周铭;徐本平 | 申请（专利权）人： | 攀钢集团研究院有限公司;攀钢集团攀枝花钢铁研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/36 | 分类号： | G01N1/36;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;张 军 |
| 地址： | 611731四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线荧光光谱微量样品制样及其制样方法，采用以下步骤：将硼酸粉末在标准模具中冲压成型，制成硼酸片，再根据待测样品的数目，以及每种被检测样品的量确定样品孔的直径和深度，选择与样品孔相等直径的打孔设备，在硼酸片上沿小于硼酸片外圆直径的圆上打出若干个分布均匀或对称，或分布不均匀或不对称的底部不透的样品孔，然后将每种不同的待测样品装入对应的样品孔中，将样品压紧压平，最后将样品制样放在X射线荧光光谱仪上进行检测分析；本发明可针对微量样品进行检测分析，具有测量强度大，灵敏度高，可同时对多个样品进行连续分析，节约硼酸的使用量，操作简便，检测效率高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 光谱 微量 样品 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种X射线荧光光谱微量样品制样，包括硼酸片载体，其特征在于在硼酸片上布置有若干个样品孔，样品孔中装有被检测的各种样品。
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