[发明专利]晶片承载装置的承载盒有效
申请号: | 200810183346.4 | 申请日: | 2008-12-02 |
公开(公告)号: | CN101752281A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 孙彗岚;吕保仪;潘冠纶 | 申请(专利权)人: | 家登精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;B65D21/032 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种晶片承载装置的承载盒,包括一具有第一容置空间的上盖体及一具有第二容置空间的下盖体,上盖体的外表面具有一顶盖部分及下盖体的外表面具有一底盖部分,其中承载盒的特征在于:上盖体的顶盖部分具有至少一对L型限制件且设于顶盖部分的角落,以及下盖体的底盖部分具有至少一对L型脚部且设于底盖部分的相对两侧边,以形成一种可堆叠式的晶片承载装置的承载盒。当复数个晶片承载装置的承载盒相互堆叠时,由L型限制件与L型脚部的配合,可用以确保承载盒堆叠时的稳固性,避免不必要的偏移导致承载盒内的容置物受损。 | ||
搜索关键词: | 晶片 承载 装置 | ||
【主权项】:
一种晶片承载装置的承载盒,包括一具有第一容置空间的上盖体及一具有第二容置空间的下盖体,该上盖体与该下盖体各具有一外表面与一内表面,该上盖体的该外表面具有一顶盖部分及该下盖体的该外表面具有一底盖部分,该上盖体与该下盖体盖合后形成一第三容置空间,且该上盖体的顶盖部分与该下盖体的底盖部分为相对应,其中该承载盒的特征在于:该上盖体的外表面的顶盖部分具有至少一对限制件且设于该顶盖部分的角落,以及该下盖体的外表面的底盖部分具有至少一对脚部且设于该底盖部分的相对两侧边。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造