[发明专利]监测光的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200810183527.7 申请日: 2008-12-17
公开(公告)号: CN101464545A 公开(公告)日: 2009-06-24
发明(设计)人: 大卫·西蒙;鲍里斯·哈尔拉莫夫;詹姆斯·王;文森特·伊谢;安迪·米勒;詹姆士·南里 申请(专利权)人: JDS尤尼弗思公司
主分类号: G02B6/42 分类号: G02B6/42
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人: 郑小粤
地址: 美国加利福尼亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于监测射入单模光纤的纤芯中的激光的方法,包括将部分光直接射入纤芯周围的包层中。被射入该包层的光是被射入纤芯中的光的已知比例部分,并且可由放置在包层附近的探测器监测。被探测的光主要包括被射入该包层的光和通过该包层泄漏的光,被探测的光被用作纤芯内的光的已知比例部分,且可被用于控制激光源。这可通过单模光纤的直段完成,不需要弯曲光纤。有利地,大多数被射入纤芯的光作为被导向的光留在纤芯中。
搜索关键词: 监测 方法 装置
【主权项】:
1、一种监测光的方法,包括:将光束射入单模光纤的端部,所述单模光纤包括:折射率为n1的纤芯和折射率为n2的围绕所述纤芯的包层,其中n1>n2,其中射入所述单模光纤的端部的光束的第一部分P1在所述光纤的第一端面被射入所述纤芯中,所述光束的第二部分P2在所述光纤的第一端面被直接射入所述包层中,其中P2/P1>0.05;在所述光纤的所述端部附近的第一位置处,沿所述光纤一侧靠近所述包层,用沿所述光纤一侧设置的光电探测器探测射入所述光纤的一部分光P3,其中所述部分光包括超过0.5%的P2和不超过0.003%的P1。
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