[发明专利]带构件,转印装置,图像形成装置及带构件评价方法有效

专利信息
申请号: 200810184853.X 申请日: 2008-12-05
公开(公告)号: CN101452238A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 泽井雄次 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G03G15/00 分类号: G03G15/00;G03G15/16;G03G15/01
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 王 冉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种可抑制转印色斑或白点图像产生的带构件,设有该带构件的转印装置以及图像形成装置。本发明还提供一种判断可抑制转印色斑或白点图像产生的带构件的带构件评价方法。在用于图像形成装置、具有高电阻表面层的多层结构环状带构件的中间转印带(201)中,体积电阻率以常用对数值(logΩ·cm)表示为0.8以上、11.0以下。以常用对数值(logΩ/□)表示,作为环外侧表面的外表面电阻率的100秒测定值与1秒测定值之差,即外表面电阻率变化量,比作为环内侧表面的背表面电阻率的100秒测定值与1秒测定值之差,即背表面电阻率变化量大0.05以上。
搜索关键词: 构件 装置 图像 形成 评价 方法
【主权项】:
1. 一种带构件,所述带构件系用于图像形成装置的多层构造环状带构件,它具有载置调色剂像的高电阻表面层,其特征在于:体积电阻率以常用对数值logΩ·cm表示,为8.0以上、11.0以下;作为环外侧表面的外表面电阻率的100秒测定值与1秒测定值之差,即外表面电阻率变化量,比作为环内侧表面的背表面电阻率的100秒测定值与1秒测定值之差,即背表面电阻率变化量大。
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