[发明专利]利用虚拟存储单元改善电荷陷阱存储器阵列中的数据可靠性的非易失性存储器件有效
申请号: | 200810185638.1 | 申请日: | 2008-12-17 |
公开(公告)号: | CN101465353A | 公开(公告)日: | 2009-06-24 |
发明(设计)人: | 薛钟善;申有哲;沈载星 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 刘光明;穆德骏 |
地址: | 韩国京畿道水*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供一种利用虚拟存储单元改善电荷陷阱存储器阵列中的数据可靠性的非易失性存储器件。一种电荷陷阱闪速存储器件,包括闪速存储器阵列,该闪速存储器阵列中至少具有电荷陷阱存储单元的第一页面,该第一页面被电耦合至第一字线。所述电荷陷阱存储单元的第一页面包括多个可寻址存储单元和多个紧邻的不可寻址“虚拟”存储单元,其中,所述可寻址存储单元被配置为用来存储在读取操作期间待检索的数据,所述不可寻址虚拟存储单元被配置为用来存储在读取操作期间不可检索的虚拟数据。所述多个虚拟存储单元包括至少一个辅助虚拟存储单元,该辅助虚拟存储单元被用作抵抗所述阵列的电荷陷阱层中的侧孔传递的缓冲器。 | ||
搜索关键词: | 利用 虚拟 存储 单元 改善 电荷 陷阱 存储器 阵列 中的 数据 可靠性 非易失性存储器 | ||
【主权项】:
1. 一种集成电路存储器件,包括:半导体衬底,所述半导体衬底中具有第一导电性类型阱区;以及在所述阱区内的非易失性存储器阵列,所述非易失性存储器阵列中具有电荷陷阱存储单元的第一和第二多个NAND串,所述第一和第二多个NAND串通过电荷陷阱存储单元的主虚拟NAND串和电荷陷阱存储单元的辅助虚拟NAND串而被相互隔开,所述辅助虚拟NAND串紧邻所述主虚拟NAND串而延伸,所述主虚拟NAND串包括电连接至所述阱区的主虚拟位线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的