[发明专利]在被照明区域中的视场的荧光分析系统无效
| 申请号： | 200810186644.9 | 申请日： | 2008-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN101467877A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 让-皮埃尔·穆瓦;菲力浦·瑞佐;安纳贝拉·达-席尔瓦 | 申请（专利权）人： | 法国原子能委员会 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 颜 涛;郑 霞 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用肉眼并根据在被照明区域中视场的荧光的分析系统，包括周期性激励的第一低剩磁白光照明光源；用于激励位于所述视场中的荧光成分的第二光源，其至少在第一光源关闭的时间周期中的一部分时间过程中工作；和在第一光源关闭且第二光源打开的时间周期中工作的荧光分析设备。 | ||
| 搜索关键词： | 照明 区域 中的 视场 荧光 分析 系统 | ||
【主权项】：
1、一种使用肉眼并根据被照明区域中视场的荧光的分析系统，包括：第一低剩磁白光照明光源(12)，所述光源由大于24Hz的频率周期性激励的发光二极管组件构成；第二光源(16)，用于激励位于所述视场中的荧光成分，至少在所述第一光源关闭的时间周期中的一部分过程中工作；和在所述第一光源关闭且所述第二光源打开的时间周期内工作的荧光分析设备(7)。
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