[发明专利]辐射性能测试方法和系统无效
| 申请号： | 200810187386.6 | 申请日： | 2008-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN101769967A | 公开（公告）日： | 2010-07-07 |
| 发明（设计）人： | 禹忠;彭宏利 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 518057广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐射性能测试方法和系统，该方法包括：构造笔记本电脑放置方式以及笔记本电脑的无线数据终端的测试模型；以无线数据终端的天线为原点构建球面坐标系，并在球面坐标系中选择测试点；将测试模型放置在全暗波室环境下，使无线数据终端在数据模式下工作，利用测量天线在球面坐标系中采集测试点处的总辐射功率，并由此获得无线数据终端的总辐射功率。通过上述技术方案，能够真实反映真笔记本电脑无线数据终端在数据模式下中笔记本各原件耦合对无线数据终端的空间辐射性能影响，具有高的真实性，并且易于使用。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 性能 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种辐射性能测试方法，其特征在于，包括：构造笔记本电脑放置方式以及所述笔记本电脑的无线数据终端的测试模型；以所述无线数据终端的天线为原点构建球面坐标系，并在所述球面坐标系中选择测试点；将所述测试模型放置在全暗波室环境下，使所述无线数据终端在数据模式下工作，利用测量天线在所述球面坐标系中采集所述测试点处的总辐射功率，并由此获得所述无线数据终端的总辐射功率。
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