[发明专利]采用X-射线衍射极图数据定量测定钢中残余奥氏体的方法有效

专利信息
申请号: 200810197287.6 申请日: 2008-10-17
公开(公告)号: CN101446561A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 周顺兵;李长一;陈士华;李立军;吴立新 申请(专利权)人: 武汉钢铁(集团)公司
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20
代理公司: 武汉开元专利代理有限责任公司 代理人: 潘 杰
地址: 430083湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种采用X-射线衍射极图数据定量测定钢中残余奥氏体的方法,其方法是:准备好一块状钢铁材料待测试样和一块与待测试样的物理状态和化学成分相同或相近的纯马氏体标样,除去试样和标样表面残余应力;将试样和标样分别放入极图测量装置中,将试样或标样置于α不同角度位置上,得到不同衍射峰的真实衍射强度,并用公式得出各α角度下试样i中马氏体的含量,并依据马氏体的含量计算出试样中奥氏体的含量,并将各α角度下试样中奥氏体含量的结果取平均值作为试样中奥氏体含量的最后结果,完成测量过程。采用本发明中的方法来测量,可以有效地消除织构对测量结果的影响,使测量结果与真值相差较小。
搜索关键词: 采用 射线 衍射 数据 定量 测定 残余 奥氏体 方法
【主权项】:
1、一种采用X-射线衍射极图数据定量测定钢中残余奥氏体的方法,所采用的方法是:在测量之前首先准备好一块状钢铁材料待测试样i,该试样中包含奥氏体和马氏体两个相,同时还要准备一块与待测试样的物理状态和化学成分相同或相近的纯马氏体标样j,且标样中不存在织构,然后按下述步骤进行测量:第一步骤:将待测试样i和标样j进行机械抛光,然后进行化学抛光以除去表面残余应力;第二步骤:将待测试样i和标样j分别放入X-射线衍射仪上的极图测量装置中,将试样或标样置于α角等于0度的位置,采用短波长的X-射线源,将探测器依次放在α相的(200)、(220)、(311)、(222)、(420)、(422)和(511)七个衍射峰的峰位置上,让试样或标样在其平面内沿β角方向旋转360度,分别采集各衍射峰的实测衍射强度I实,衍射强度I实中包含背底的平均强度,在实验条件相同的情况下,将探测器依次放在各衍射峰2θ角附近背底位置上,按相同的操作方式,分别采集各衍射峰的背底衍射强度I背;第三步骤:将试样或标样分别置于α角等于10、20、30、40度的几个等级位置,重复第二步骤的测量过程;第四步骤:将α角等于某个值的待测试样和标样的各衍射峰的实测衍射强度I实减去相应的背底衍射强度I背,得到衍射峰的真实衍射强度I,并按以下公式得出各衍射峰时试样i中马氏体的体积百分数Xiα:其中P为轴密度因子,轴密度因子P的取值为:式中:I、N分别为某(hk1)晶面的衍射强度、多重性因素,并依据马氏体的体积百分数Xiα计算出该α角下的试样中奥氏体的含量=1-Xiα;同理,计算出α角等于不同角度下的试样中奥氏体的含量,将这些奥氏体含量的结果取平均值作为试样中奥氏体含量的最后结果,完成测量过程。
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