[发明专利]一种减少短路击穿的铝电解电容器的制造工艺无效
申请号: | 200810200758.4 | 申请日: | 2008-09-28 |
公开(公告)号: | CN101430969A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 严丽芳 | 申请(专利权)人: | 上海永铭电子有限公司 |
主分类号: | H01G9/00 | 分类号: | H01G9/00;H01G9/045;H01G9/048;H01G9/14;H01G9/008 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 翁若莹 |
地址: | 201406上海市奉贤*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种减少短路击穿的铝电解电容器的制造工艺,其特征在于,首先在铆接前先对正极铝箔、负极铝箔进行冲孔,以便将相应位置处的铝箔碎屑去掉;然后将正导针、负导针分别放到正极铝箔、负极铝箔箔面上进行冲孔铆接,其中正导针、负导针上冲孔的位置与正极铝箔、负极铝箔上预冲孔的位置重合;最终放入电解纸包卷、含浸、装配成铝电解电容器。本发明的优点是减小铆接阻抗,降低产品损耗减少发热,杜绝毛刺引起的击穿现象和毛刺尖端放电现象,产品一致性有明显提高,产品寿命也有较大提升。 | ||
搜索关键词: | 一种 减少 短路 击穿 铝电解电容器 制造 工艺 | ||
【主权项】:
1. 一种减少短路击穿的铝电解电容器的制造工艺,其特征在于,第一步,首先在铆接前先对正极铝箔(1)、负极铝箔(2)进行冲孔,以便将相应位置处的铝箔碎屑去掉;第二步,然后将正导针(6)、负导针(5)分别放到正极铝箔(1)、负极铝箔(2)箔面上进行冲孔铆接,其中正导针(6)、负导针(5)上冲孔的位置与正极铝箔(1)、负极铝箔(2)上预冲孔的位置重合;第三步,最终按常规工艺放入电解纸(3)包卷、含浸、装配成铝电解电容器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海永铭电子有限公司,未经上海永铭电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810200758.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。