[发明专利]基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触测量方法和系统无效

专利信息
申请号: 200810201977.4 申请日: 2008-10-30
公开(公告)号: CN101419063A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 陈明仪;郑鹏;郭红卫;于瀛洁;周文静 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于多孔径拼接技术的非接触圆柱度测量方法和系统。该系统主要由数字光栅投射系统、图像采集系统、多视角重叠扫描机构及控制系统、计算机软件处理系统组成。测量首先对系统进行深度和横向标定,然后,通过多视角重叠扫描机构进行被测圆柱各个视角的条纹图像采集,经过图像处理后,获得各视角三维数据。对各视角三维数据利用多孔径拼接技术实现完整的圆柱面形拼接,从而依据GPS(几何产品技术规范)实现圆柱度精确评定。该系统可以实现基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触式测量和评定,有效地解决了目前圆柱度测量存在的采样点不足、评定结果不统一等问题。测量系统能够达到较高的测量精度,且具有较好的重复性。
搜索关键词: 基于 多孔 拼接 技术 圆柱 接触 测量方法 系统
【主权项】:
1. 一种基于多孔径拼接技术的圆柱度非接触测量方法,其特征在于首先对测量系统进行标定,随后进行图像采集及条纹图像处理,通过控制二维图像传感器和被测圆柱体的相对运动进行重叠扫描,依次获得被测圆柱体的多个单视角面形数据;其次,基于多孔径拼接融合技术实现多视角面形数据的精确拼接,获得整体圆柱面形数据;进而,依据几何产品技术规范GPS关键技术设计检验操作算子实现圆柱度的数字化评定,并参照提出圆柱度测量面形半径误差评定指标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810201977.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top