[发明专利]单个金属微滴大冷速原位快速热分析测定过冷度的方法无效
| 申请号： | 200810203985.2 | 申请日： | 2008-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN101430292A | 公开（公告）日： | 2009-05-13 |
| 发明（设计）人： | 高玉来;杨斌;邹长东;翟启杰;克里斯托夫·什克;艾乌基尼·朱拉夫列夫 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01N25/02 | 分类号： | G01N25/02 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所（普通合伙） | 代理人： | 顾勇华 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种单个金属微滴大冷速原位快速热分析测定过冷度的方法，属金属物理性能测试测量技术领域。本发明的特点是：以大的加热冷却速度对单个金属微滴进行实时原位快速热分析测试，从而可通过实验手段直接获取大冷却速率条件下的金属微滴的凝固过冷度，有别于以往只能通过理论计算获取快速冷却条件下微滴凝固过冷度的方法。本发明采用快速热分析设备实时测量单个金属微滴的加热及冷却曲线；加热冷却速率为1～1×104K/s；分析所得的加热及冷却曲线，获得单个金属微滴的熔化及凝固温度，即可获得单个金属微滴的实时凝固过冷度。 | ||
| 搜索关键词： | 单个 金属 微滴大冷速 原位 快速 分析 测定 过冷 方法 | ||
【主权项】：
1. 一种单个金属微滴大冷速原位快速热分析测定过冷度的方法，其特征在于具有以下的测试过程和步骤：a. 在光学显微镜下将所需的单个金属凝固微滴挑选出来，并放置于快速热分析设备传感器的加热区域内；b. 借助光学显微镜将测试微滴定位，确保微滴的位置控制精确，使之位于传感器加热区域的中心位置上方，并确定单个微滴的尺寸；c. 采用快速热分析设备实时测量上述单个金属微滴的加热及冷却曲线，加热冷却速率为1～1×104K/s；
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