[发明专利]基于反卷积的篡改图像盲检测方法无效

专利信息
申请号: 200810203998.X 申请日: 2008-12-04
公开(公告)号: CN101452568A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 王睿;方勇 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: G06T1/00 分类号: G06T1/00
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种基于反卷积的篡改图像盲检测方法,属于图像信息安全领域。本发明利用反卷积和维纳滤波技术实现降晰篡改图像的盲检测,首先人为初步确定待检测图像的篡改区域位置,提取剩余未篡改区域的多个规则子图像,利用多个子图像构建一个近似满足完全卷积关系的数据块,采用交替迭代盲反卷积方法从该数据块中估计出未篡改区域的降晰函数,最后,利用估计的降晰函数对整幅图像做维纳滤波,并利用滤波结果辨别待检测图像是否经过篡改和具体的篡改区域。本方法简单、有效,在图像信息安全领域具有一定的应用前景。
搜索关键词: 基于 卷积 篡改 图像 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于反卷积的篡改图像盲检测方法,其特征在于首先人为的对图像中篡改区域进行估计,利用未篡改区域部分数据估计未篡改区域的降晰函数,然后利用估计的降晰函数对待检测图像进行维纳滤波,滤波图像中的模糊或周围有明显振铃效应的部分被认为是篡改区域;具体的操作步骤如下:1)人为的辨别图像存在的可疑区域,即篡改区域ydoctored,一般篡改区域是为掩盖原始图像的部分数据,而达到篡改某种事实的目的,故篡改区域一般具有完整的内容特性,相应余下区域为未篡改区域yoriginal;2)根据第一步得到的未篡改区域yoriginal大小,确定待提取子图像阶数为p、q,要求且待提取子图像个数为K个,N、M为未篡改区域降晰函数的阶数;3)在未篡改区域yoriginal提取规则子图像(1≤i≤K1,1≤j≤K2),要求规则子图像依次相邻,排列成K1行K2列的方格,且K=K1×K2;4)将K个规则子图像数据相加求均,构造新的未篡改区域数据y~original(k,l)=Σi=1K1Σj=1K2yoriginal(i,j)(k,l),]]>构造新数据和horiginal近似满足循环卷积关系,即y~original=IDFT(Xoriginal(ω)Horiginal(ω)),]]>其中ω为频域表示,Xoriginal(ω)为未篡改区域的原始未降晰数据,Horiginal(ω)为未篡改区域降晰函数频域变换,IDFT(·)为逆傅立叶变换操作;5)利用第4步中数据采用交替迭代盲反卷积技术估计未篡改区域的降晰函数6)利用第5步中估计的未篡改区域的降晰函数对整幅图像做维纳滤波其中,σ为噪信比,可根据信噪比大小预设成固定值,为估计的为篡改区域降晰函数的傅立叶变换,为其共轭,Y(ω)为整幅待检测图像;7)对第6步中维纳滤波结果逆傅立叶变换,得到维纳滤波空间域图像数据若发现第1步中人为确定的可疑区域存在模糊或者边界存在振铃效应,则此区域为篡改区域,否则,篡改的可能性不大;8)若未发现篡改区域,可再次确定其它可疑区域,继续第1至第7步过程,进行篡改检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810203998.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top