[发明专利]中控锁寿命自动测试机无效
申请号: | 200810207783.5 | 申请日: | 2008-12-25 |
公开(公告)号: | CN101451916A | 公开(公告)日: | 2009-06-10 |
发明(设计)人: | 朱新爱;汤春树 | 申请(专利权)人: | 上海徕木电子股份有限公司 |
主分类号: | G01M17/007 | 分类号: | G01M17/007;G01M19/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵志远 |
地址: | 201101上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及中控锁寿命自动测试机,该测试机包括电气配线箱、固定盘、拉杆、旋转臂、两个近接式传感器、控制器、电源,所述的固定盘、拉杆、旋转臂、近接式传感器、控制器、电源均设在电气配线箱上,所述的拉杆与固定盘连接,所述的旋转臂与拉杆连接,所述的控制器与两个近接式传感器控制连接。与现有技术相比,本发明的优点包括:该机器运行可靠,结构紧凑,节省空间;自动保护功能,使其在寿命测试中故障自动报警及自动停机;实现了自动切换门锁内电机正负极使电机实现正反转从而达到自动开门关门的自动生产化;阻力可调。 | ||
搜索关键词: | 中控锁 寿命 自动 测试 | ||
【主权项】:
1. 中控锁寿命自动测试机,其特征在于,该测试机包括电气配线箱、固定盘、拉杆、旋转臂、两个近接式传感器、控制器、电源,所述的固定盘、拉杆、旋转臂、近接式传感器、控制器、电源均设在电气配线箱上,所述的拉杆与固定盘连接,所述的旋转臂与拉杆连接,所述的控制器与两个近接式传感器控制连接。
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